OmniScan ECA渦流陣列探傷儀

渦流陣列技術(shù) 
渦流陣列技術(shù)（ECA）以電子方式驅(qū)動(dòng)同一個(gè)探頭中多個(gè)相鄰的渦流感應(yīng)線(xiàn)圈，并解讀來(lái)自這些感應(yīng)線(xiàn)圈的信號(hào)。通過(guò)使用多路技術(shù)采集數(shù)據(jù)， 可避免不同線(xiàn)圈之間的互感。 

OmniScan® ECA檢測(cè)配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個(gè)感應(yīng)線(xiàn)圈（使用外部多路器可支持的感應(yīng)線(xiàn)圈多達(dá)64個(gè)）。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz，并能選擇在同一采集中使用多頻。

渦流陣列的優(yōu)勢(shì) 
同單通道渦流技術(shù)相比，渦流陣列技術(shù)具有下列優(yōu)勢(shì)：

• 檢測(cè)時(shí)間大幅度降低。

• 單次掃查覆蓋更大檢測(cè)區(qū)域。

• 減小了機(jī)械和自動(dòng)掃查系統(tǒng)的復(fù)雜性。

• 提供檢測(cè)區(qū)域?qū)崟r(shí)圖像，便于數(shù)據(jù)的判讀。

• *地適用于對(duì)那些具有復(fù)雜幾何形狀的部件的檢測(cè)。

• 改進(jìn)了檢測(cè)的可靠性和檢出率（POD）。

渦流陣列探頭 
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。根據(jù)缺陷的不同類(lèi)型或者被測(cè)工件的形狀，可以設(shè)計(jì)出不同的探頭。標(biāo)準(zhǔn)探頭可檢測(cè)如裂紋、點(diǎn)蝕等缺陷，以及多層結(jié)構(gòu)中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。

OmniScan ECA渦流陣列探傷儀

主要應(yīng)用： 緊固件表層裂紋檢測(cè)

制造商用型和軍用型航天飛機(jī)時(shí)，要使用成千上萬(wàn)個(gè)緊固件將搭接的鋁制板材連接在一起。下層鋁板上的疲勞裂紋經(jīng)常會(huì)被一層蒙皮隱藏起來(lái)。要確保任何航天飛機(jī)的完好無(wú)損性，在定期的在役檢測(cè)過(guò)程中，必須探測(cè)到這些隱藏的缺陷，并進(jìn)行修復(fù)。

奧林巴斯開(kāi)發(fā)了一項(xiàng)用于對(duì)緊固件和近表層裂紋進(jìn)行檢測(cè)的創(chuàng)新型技術(shù)，作為航空航天系列解決方案的一部分。這個(gè)方案將渦流技術(shù)應(yīng)用到一個(gè)尚未探知的領(lǐng)域。這個(gè)新技術(shù)可顯示飛機(jī)一層鋁制蒙皮下裂紋的極為清晰的圖像，可為用戶(hù)有效提供可靠的檢測(cè)結(jié)果。

特性

• 可替代磁光成像（MOI）。

• 32個(gè)線(xiàn)圈探頭可覆蓋寬大的范圍。

• 無(wú)需去除漆層；簡(jiǎn)化了操作過(guò)程，節(jié)省了大量時(shí)間。

• 使用持續(xù)模式，掃描圖像可以不間斷地顯示檢測(cè)結(jié)果。

• 數(shù)據(jù)記錄功能有助于制作專(zhuān)業(yè)性報(bào)告。

• 對(duì)探頭的放置要求不如滑動(dòng)式探頭那么嚴(yán)格。

• 經(jīng)過(guò)優(yōu)化后，可以探測(cè)商用型和軍用型飛機(jī)鋁制板材之間的典型近表層裂紋。